Bài viết nằm trong series bài viết về VLSI Testing

Các Khả Năng Xảy Ra Khi Test Chip

Có 4 khả năng xảy ra khi test chip

1.True PASS: tất cả các tính năng của chip đều được test một cách chính xác, chip hoạt động tốt, không có defect nào cả.

2.Test escape: quá trình test không phát hiện được chip bị lỗi. Những con chip lỗi đã “trốn thoát” quá trình test. Đôi khi vấn đề này là không thể tránh khỏi và yêu cầu là số lượng “test escape” là càng ít càng tốt.

3.Yield loss: trong một số trường hợp, những con chip tốt lại fail test. Có thể do chương trình test hoặc một số yếu tố nào đó khiến việc đánh giá không chính xác. Việc này dẫn đến vô tình loại bỏ đi những con chip đạt yêu cầu. Số lượng “yield loss” này cũng phải càng ít càng tốt.

4.True FAIL: quá trình test đã tìm ra những con chip thật sự bị lỗi và loại bỏ chúng.

Ở khả năng 2 và 3 là những quyết định sai lầm trong quá trình testing. Khả năng 2 có thể dẫn đến bàn giao chip bị lỗi đến khách hàng, còn khả năng 3 có thể dẫn đến lãng phí vì loại bỏ những con chip tốt. Vì vậy quá trình testing phải cố gắng giảm thiểu “Test escape” và “Yield loss”.

Test Là Quá Trình Đưa Ra Quyết Định

Quá trình test chính là quá trình đưa ra quyết định chip PASS hay FAIL. Đôi khi chúng ta sẽ phải đánh đổi (trade-off) giữa chi phí (test cost) và chất lượng (test quality).

Quá trình test đủ chất lượng sẽ giảm “test escape” nhưng đôi khi có thể làm tăng “yield loss”, đồng nghĩa với việc gia tăng chi phí test do thời gian test dài.

—

Quay về main menu: Chuỗi Bài Viết Về VLSI Testing