So sánh Directed Test và Constrained Random Test trong Verification

So sánh Directed Test và Constrained Random Test trong Verification

Trong quy trình kiểm tra thiết kế vi mạch (Design Verification – DV), hai phương pháp phổ biến là Directed Test và Constrained Random Test, mỗi phương pháp có ưu và nhược điểm riêng, phù hợp với các giai đoạn khác nhau trong quá trình kiểm tra. Directed Test là...
ICTC EVENT

ICTC EVENT

2 tiếng 18 phút là tổng thời gian mà buổi giao lưu vi mạch đã diễn ra . Quá nhiều câu hỏi của các bạn đã được gửi. Hi vọng sẽ sớm gặp lại các bạn trong các buổi tiếp theo. Bạn nào bữa không join được có thể xem lại trên kênh...